先锋科技（香港）股份有限公司
扫一扫，手机逛起来
主营：成像产品、各种激光器、激光测试、太赫兹、光度色度测试、光电元器件、光学元件、精密光学机械运动控制
13810146393
您现在的位置：
首页 > 产品目录 > 材料光学测量设备
企业信息
第15年
  • 入驻时间：2010-02-01
  • 联系人：王超
  • 电话：13810146393
  • 联系时，请说明仪表网看到的
  • Email：3204301855@qq.com
在线询价
产品目录
产品详情

薄膜测厚仪FE5000

  • 如果您对该产品感兴趣的话，可以
  • 产品名称：薄膜测厚仪FE5000
  • 产品型号：
  • 产品展商：其它品牌
  • 产品文档：无相关文档
  • 发布时间：2020-04-02
  • 在线询价
简单介绍
薄膜膜厚测量仪 通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现 高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析
产品描述
通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现
高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析

可对应各种选配，膜厚的特制解析
 

椭圆偏振光测量仪FE5000应用范围
  • FPD                           LCD,PDP,FED,有机El
  • 半导体                       a-Si，poly-Si，其他
  • 复合半导体                 半导体激光，强电介质                        
  • 数据储存                     DVD,HDD,磁气头                       
  • 光学材料                     膜，防放射膜      
  • 膜                              AR膜   
 
 
FE-5000S
FE-5000的基础上追加了FE-5000S系列。FE-5000S虽然和FE-5000有相同的基本功能，但是价格低，省空间。光谱椭偏仪的用途也得到扩大。


 
功能进一步展开的光谱椭圆偏振光测量仪FE5000
高速高精度
 
纳米级的薄膜膜厚测量  
  • 非接触非破坏实现多层膜的解析
 
材料表面光学常数（n.k）的测量 
  • 可求得膜厚以及光学定数的波长分散
[膜厚，光学定数  (n:折射率、K：消光系数)、椭圆偏光仪（tanψ、cosΔ）]  
  • 提供膜厚管理膜质管理有用的信息
 
通过400ch以上的多通道光谱法，迅速测量椭圆光谱
  • 可实现一分钟以内的高速测量
  • 光谱点多，所以坡度大的椭圆光谱也可正确测量
 
 
利用多波长光谱仪实现高精度高感度测量
测量反射角度可变，对应薄膜的高精度解析
可对应特制解析的材料物性和多层膜等的高度评价
  • 利用有效媒质近似（EMA）可测量复素折射率的波长分散，混合结晶的混合比，界面的厚度等。
  • 利用各种光学常数函数和膜model解析，可对应薄膜界面等的材料物性评价
  • 利用多层膜fitting解析的光学常数测量实现了膜厚膜质管理
  • 通过光学常数数据基础化和菜单登陆功能，改善了操作性


产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
  • 温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
  • 免责申明：以上内容为注册会员自行发布，若信息的真实性、合法性存在争议，平台将会监督协助处理，欢迎举报
关于我们| 易展动态| 易展荣誉| 易展服务| 易家文化| 英才集结号| 社会责任| 联系我们

备案号：粤ICP备11010883号| 公安机关备案号：44040202000312| 版权问题及信息删除： 0756-2183610  QQ： 服务QQ

Copyright?2004-2017  珠海市金信桥网络科技有限公司 版权所有

行业网站百强奖牌 搜索营销*有价值奖 中小企业电子商务**服务商
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，易展仪表展览网对此不承担任何保证责任。