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- 产品名称：CMOS平板探测器-1207
- 产品型号：
- 产品展商：其它品牌
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- 发布时间：2020-04-02
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简单介绍
CMOS X射线相机由单个半导体硅片制成，可直接探测可见光或配合闪烁晶体用于探测X光和其它高能辐射。CMOS平板探测器-1207
产品描述
CMOS X射线相机由单个半导体硅片制成，可直接探测可见光或配合闪烁晶体用于探测X光和其它高能辐射。针对不同应用，可配备不同厚度Gadox或针状CsI闪烁体，是医学诊断，工业检测，科学成像的理想解决方案，标准能量测试范围为不超过220KV，根据客户要求，能量可到400KV，采用Camera Link接口，全分辨率下*高可到65帧/秒
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有效面积(mm)
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114.9x64.6
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分辨率
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1536x864
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像素尺寸（µm）
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74.8/149.6/299.2；依赖于不同的binning
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MTF@6lp/mm
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大于20%；(150µm HR CsI without binning）
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DQE
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~0.7 at 0.5lp/mm (28 kV, W / Al)
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Binning
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1 x 1, 1 x 2, 2 x 2, 1 x 4, 2 x 4, 4 x 4
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工作模式
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提供低噪声及高动态范围两种
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动态范围
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6400-2400；依赖于不同的工作模式及binning
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帧速
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32-191；依赖于不同的binning及数据接口
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ADC分辨率
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14位
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计算机接口
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Camera Link或千兆以太网
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外形尺寸(mm)
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241 x 150 x 42
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重量(kg)
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1.9
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