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[仪器资料]X射线荧光光谱仪知识

[仪器资料]X射线荧光光谱仪知识：X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光四类。

波长色散X射线荧光光谱仪
波长色散X射线荧光光谱仪采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱仪一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。

　　
能量色散X射线荧光光谱仪

　　能量色散X射线荧光光谱仪采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱仪��质子激发X射线荧光光谱仪、放射性同位素激发X射线荧光光谱仪、全反射X射线荧光光谱仪、微区X射线荧光光谱仪等较多采用的是能量色散方式。

　　
非色散X射线荧光光谱仪

　　非色散X射线荧光光谱仪不是采用将不同能量的谱线分辨开来，而是通过选择激发、选择滤波和选择探测等方法使测量分析线而排除其他能量谱线的干扰，因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品。

　　
全反射X射线荧光光谱仪

　　如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2（图2.20右图），即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。

　　
X射线荧光光谱仪有如下特点：

　　分析的元素范围广，理论上，从4Be到92U均可测定；

　　荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；

　　分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差；

　　分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。

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