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成功案例

西北业大学在我司购买多能数字式四探针测试仪

多能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C
概述
HAD-2258C型多能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器*符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等分组成。
主机主要由*恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校能;电压电流自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪赠设测试结果分类能,大分类10类。
探头选配:根据不同材料性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配:般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台,也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的点与选型参考》
仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、**化程度、结构紧凑、使用简便等点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量)
电    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω
         (1.0×10-6 ~ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω-cm
         (1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
方块电阻:50.0×10-6 ~ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103  Ω/□ 
         (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103  Ω/□)
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直    径: HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限
HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.
长()度:  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.
测量方位:  轴向、径向均可
量程划分及误差等
满度显示
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
200.0
20.00
2.000
常规量程
kΩ-cm/
kΩ-cm/
Ω-cm/
mΩ-cm/
---
大拓展量程
---
kΩ-cm/
Ω-cm/
mΩ-cm/
mΩ-cm/
基本误差
±2%FSB
±4LSB
±1.5%FSB
±4LSB
±0.5%FSB±2LSB
±0.5%FSB
±4LSB
±1.0%FSB
±4LSB
作电源:220V±10, f=50Hz±4,PW5W
5.外形尺寸: 245mm(长)×220 mm(宽)×95mm()
   重:≤1.52.0kg
网址:www.51658042.com