德国PHYNIX公司surfix F带统计涂层测厚仪的特点：1.德国PHYNIX公司制造2.碳化钨超耐磨测头.特快反应速度3.同屏显示统计数据4.可存储前200测值5.可测铁基体上涂镀层6.基体上涂层,量程1500μm7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光8.有红外可接PC及打印机 surfix F的技术参数：
测量范围
0-1500µm,0 - 60mils
误差
±(1µm+1%读数）
分辨率
0.1µm或小于读数的2%
显示
背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示
基体*小面积
5mmX5mm
基体*小曲率
凸面：1.5mm 凹面：5mm
基体*小厚度
F型：0.2mm ,N型： 50µm
校准
厂家校准，零校准，校准箔校准
数据统计（*限统计型）
读数个数（*多9999个），平均值，标准偏差，*大值和*小值
数据存储（*限统计型）
*多200个测量数值,可单独调出
数据值（*限统计型）
上下限可调,声音报警
数据接口
红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度
0-50℃/60℃ （可选配150℃）
电源
两节1.5伏五号碱性电池
仪器尺寸
137x66x23mm
符合标准
DIN，ISO，ASTM，BS