半导体检测
使用DSX1000数字式显微镜简化半导体检测
使用光学显微镜时，如要更改观察方法，则必须在显微镜上加上或去掉滤光片。 大多数数字式显微镜均无法使用单个镜头执行所有观察，因此需要对其予以更换， 从而导致观察位置发生偏移。
大多数数字式显微镜均无法使用单个镜头执行所有观察，因此需要对其予以更换，
从而导致观察位置发生偏移。
DSX1000显微镜的多功能控制台可实现快速、平稳的分析。通过按下控制台上的按钮或单击用户界面，即可查看缩略图显示，其中显示六种观察方法下的样品。这样即可轻松选择适用于您应用的*佳图像，从而缩短检测时间。
这种缺陷难以发现，因其与背景融合。