镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的**次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品���照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。