现在各大手机制造商纷纷开始对原有测试模式进行改革，目的只有一个，即降低测试成本，简化测试流程。
测试领域越来越清晰的出现以下趋势。
使用非信令模式
传统方法中，话音呼叫的建立、系统切换，以及测试模式和正常模式间的切换、开关机这些动作占用了大量时间。信令动作旨在考验手机对高层协议信息的执行是否正确，完全可以转移到研发阶段测试。因此未来的终测也将像校准一样，完全在非信令模式下进行。以往必须借助信令模式构建收发环回链路进行的误码率测试，随着芯片和仪器能力的提升，也可在非信令条件下完成。
预定义的测试步骤和模式
提高生产效率
校准时软件和手机之间存在大量的数据交互。目前的仪表的速度已经非常快，比如罗德与施瓦茨公司的CMU200，单次的功率测量只需要几十毫秒。但是大量数据交互所需要的时间远大于测试本身，形成速度瓶颈。
手机芯片已开始变得更智能，测试程序只需向芯片发出一次指令，指示手机发出不同功率和频率的信号序列，手机就能连续动作。同时仪器使用智能校准这样的技术进行一次性的测试，从而节省时间。此外，基于芯片和仪器的能力，工程人员还开发出多制式并行测量的新应用。