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老化测试系统介绍

电子元器件老化调试系统，该系统主要用于对探井设备电路板中多种电子元器件的入厂筛选与检验，其中包括对电阻、电容、电感等常用元器件的检测。

作为专业的电子元器件老化调试系统，其可在室温至180度的任意温度点下，对电子元器件进行功能、电气指标的自动化调试，温度测量精度可达0.1℃。该调试系统由老化板、老化插座、负载板及自主研发的信号路由矩阵组成，模块化设计保证了系统具有强大的扩展性。系统采用大腔体设计，可接受*多16块区别的老化板同时进行调试。老化板适配夹具耐温可达270℃，接口可基于元器件任意定制。同时，该系统还可以任意设置老化温度点、老化时间与循环调试时间间隔，以满足区别的调试需求。

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