涂层测厚仪能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
涂层测厚仪产品特性 涂层测厚仪四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能； 涂层测厚仪所有型号均可配所有探头； 涂层测厚仪可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机； 涂层测厚仪可使用一片或二片标准箔校准。
涂层测厚仪技术特征
型号
MINITEST 1100
MINITEST 2100
MINITEST 3100
MINITEST 4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
1
10
99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算，并可设宽容度极限值)
.
可用各自的日期和时间标识特性的组数
500
数据总量
10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
√
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
存储显示每一个应用行下的所有组内数据
分组打印以上显示和存储的数据和统计值
显示并打印测量值、打印的日期和时间
其他功能
设置极限值
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别*大*小值
连续测量模式中测量稳定后显示读数
连续测量模式中显示*小值
可选探头参数: 所有探头都可配合任一主机使用。在选择*适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。 F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层 N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层 FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
探头
量程
低端 分辨率
误差
*小曲率半径 (凸/凹)
*小测量 区域直径
*小基 体厚度
探头尺寸
磁 感 应 法
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
F1.6/90
平面/6mm
φ8x8x170mm
F2/90
0-2000μm
0.2μm
F3
0-3000μm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
φ45x70mm
两 用
FN1.6
F0.5mm/N50μm
FN1.6P
平面
30mm
φ21x89mm
FN2
电 涡 流 法
N02
0-200μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
2.5mm
100μm
N1.6
N1.6/90
平面/10mm
φ13x13x170mm
N2
N2/90
N10
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
φ60x50mm
N20
±(1%±50μm)
70mm
φ65x75mm
N100
0-100mm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
7mm
无限制
φ17x80mm
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。