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漆膜测厚仪技术特点

漆膜测厚仪技术特点:
　　.采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;
.具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
.具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl);
　　.漆膜测厚仪可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
　　.具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
　　.漆膜测厚仪具有与PC机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC机,以便对数据进行进一步处理;

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