激光共聚焦在高分子材料应用

                        激光共聚焦在高分子材料应用
Q: 请问激光共聚焦显微镜在高分子化学材料应用方面有什么优势和特点。
A: 激光共聚焦显微镜其实就是一种**的荧光显微镜，其在高分子化学材料方面已经有了非常广泛的应用。如：在研究多组份聚合物的织态结构、聚集过程、乳胶膜形成过程等研究方面都已做出了非常多的成果。参见：化学通报的一篇文章：http://202.127.145.151/Dig_Lib/ReadingRoom/HuaXueTongBao/1999/col/1999/hxtb/hxtb9906/990607.htm
　　聚合物多组份体系的研究已发展成为高分子材料科学的重要领域，而其材料性能又与体系中各组份的相容性及相态结构密切相关。
　　目前，研究多组份聚合物共混体系形态结构*常用的方法有电子显微技术，如扫描电镜法(SEM)和透射电镜法(TEM)、X-射线光电子能谱法(XPS)、原子力显微镜法(AFM)、直接无辐射能量转移法(DET)等，这些方法中有的可以从分子水平上获得共混体系中各组份相互作用或形态结构的信息，但也各自存在一些局限性，如有的方法对样品的要求较为苛刻，制样比较复杂，而更主要的是它们或为表面分析方法，只能给出表面结构的信息；或者只能获得宏观平均结构图象，如果要了解材料的层次形态结构及其分布，就要破坏样品，XPS虽可以给出表面以下的组成分布，但只能提供约100A厚度以内的信息。
　　激光共聚焦荧光显微技术是八十年代中期发展起来的一种无损的多层形态观测的新方法，它提供了有效的途径弥补上述各种手段的不足之处。其检测深度可达100μm，制样简单、快速、图象直观。由于它是光学观察方法，因此其分辨率较电镜为低，约0.2μm。另外，为了得到一定的反差，进行观察前，需对多组份聚合物体系中的某一（或某些）组份进行荧光标记。可得到比普通荧光显微镜更高分辨率、更高灵敏度的图像，并有效地保护标本。不仅在X-Y平面，同时在Z轴方向，可获得样品不同深度层面的信息，即光学切片或断层扫描，而无需破坏样品。另外，获得的图像信息通过相关软件的帮助，可对标本各深度层面的信息进行三维重建，可以得到表面及内部结构都非常清晰的三维图像。在生物学、医学、高分子材料、生物化学、胶体化学（如研究胶体分散相中乳胶颗粒的分布、排列、热运动及器壁效应等）等众多研究领域，激光共聚焦技术都有着广泛的应用。