X射线衍射仪 DX系列

如果您对该产品感兴趣的话，可以
产品名称： X射线衍射仪
产品型号：DX系列
产品展商：其它品牌
发布时间：2009-01-15
产品文档：无相关文档

简单介绍

DX系列X射线衍射仪设计精密，硬件、软件功能齐全，能灵活地适用于物质微观结构的各种测试、分析和研究。根据实际任务的需要，可以安装各种特殊功能的附件及相应控制和计算软件，组成具有特殊功能的衍射仪系统。

产品描述

　　●硬件系统和软件系统的**结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要；

　　●高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果；

　　●高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度；

　　●程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观。

技术参数

　　可对单晶、多晶和非晶样品进行结构分析，如物相定性和定量分析（RIR定量、内部标准法、外部标准法、标准添加法），衍射谱图指标化及点阵参数测定，晶粒尺寸及点阵畸变测定，衍射图谱拟合修正晶体结构（WPF），残余应力测定，织构分析（ODF表示立体极图），结晶度、薄膜测定。

衍射数据处理软件

　　对衍射数据进行常规处理：自动寻峰、手动寻峰、积分强度、Kα1、α2剥离、背景扣除、平滑、峰形放大、多重绘图、3D绘图、已知晶体理论结构，模拟出XRD衍射谱图等;

　　拟合、多重峰分离

　　通过 Pseudo-Voigt函数或是利用Pearson-VII函数对重叠峰拟合分解，确定单一衍射峰的参数，同时计算结晶度、晶粒尺寸、二类应力等。

　　定性、定量分析：

　　定性、定量分析确定样品物相组成后，使用Rietveld方法，计算出各种物相含量的百分比（无标标定量分析）。

　　Rietveld晶体结构精修（WPF）

　　全谱拟合定性分析、**定量分析峰形分析研究晶体杂质、位错、晶界、点阵畸变等微观结构。

　　绘图、打印输出

　　数据处理软件与Windows相连接，对将要输出的图谱可以使用标注、放大、缩小等功能进行版面设计，也可以使用Windows操作进行剪切、粘贴。

集成测量附件(选件)

　　广角测角仪一般是针对粉末样品、块状样品定性和定量分析而设计的。但随着材料研究的深入，越来越多的板材、块状材料及基体上的膜也要求用X射线衍射分析，集成测量附件就是为了满足这些需要而设计的。在广角测角仪上安装集成测量附件可以进行织构、应力、薄膜、定量分析等测试，每一种测试功能都有相应的计算软件。

　　应用领域：

　　●碾轧板（铝板、铁板、铜板等）织构测量及评价（极图、反极图、ODF计算）
　　●大分子化合物取向测量
　　●陶瓷样品取向测量
　　●薄膜样品晶体优先方位的评价
　　●金属材料、陶瓷材料的残余应力测量（切削、敲击等加工产生　的应力）
　　●金属材料上的氧化膜、氮化膜等残余应力测量，进行耐磨性、　切削性评价
　　●多层膜材料的残余应力测量
　　●金属、非金属基体上的多层膜、氧化膜、氮化膜分析
　　●金属、非金属表面的电镀材料分析
　　●有择优取向的粉末、大分子材料的定性、定量分析

　　特点：

　　●极图测试装置（有反射法、透射法、γ摆动）
　　●应力测量附件（有侧倾法、并倾法）
　　●薄膜测量、Phi 扫描（样品表面旋转）
　　●*大可测量样品尺寸：φ35X8mm
　　●样品前后自动调整*小距为：5μm
　　●附件有定位结构与广角测角仪安装、柝卸十分方便
　　●DX系统软件自动控制各个方向动作，可以更好的进行粉末样品测试

　　技术参数：

　　α轴转动范围：－45°～90°　*小转动步距0.001°/步

　　β轴转动范围：360° 　　　　*小转动步距0.005°/步

　　γ轴转动范围：±8mm　　　　　水平45°方向摆动

　　Z轴转动范围：10mm 　　　　　*小移动步距0.005mm/步

　　集成测量附件配置有高分辩率平行光光学系统，克服了聚集光学系统的缺点。平行光光学系统可以解决测量角度误差、衍射峰不对称、分辩率低等问题。尤其适用于材料残余应力、有机材料、薄膜、镀膜等样品分析。

　　织构使多晶材料呈现各向异性，利用织构改善和提高材料的性能、充分发挥材料性能潜力是材料科学研究重要的工作之一。虽然检测材料织构的方法很多，但是*广泛应用的还是X射线衍射技术。

集成测量附件应用于退火铝的织构测试。分别测量出111、200、220三张极图，使用计算软件绘制的反极图和立体极图（ODF图）

　　集成测量附件应用于钢的残余应力测试，Psi角膜式，-45°～90°范围内取点对称测量2θ角峰位，计算正向、反向测试应力值，取平均值为应力测量结果。

纤维样品测量装置(选件)

　　纤维样品测量附件安装在广角测角仪上。安装纤维样品或将纤维样品安装后拉伸，用透射法或是反射法测试晶体结构或是晶体结构的变化，适用于木材、纤维等样品的纤维组织测量。

样品旋转(薄膜测量)附件(选件)

　　使用聚焦光学系统一般无法测量薄膜样品，但采用平行光光学系统和样品旋转附件、将θ轴固定、低角度入射、使用平晶单色器反射、保持样品内旋转的方法，除掉来自基体的强X射线，可以高效率地探测到薄膜衍射线。

衍射仪通用附件（选件）



单色器：提高衍射峰与背景比例及对微相分析能力		DCX-6换样器：编程控制，一次安装多个样品，顺序进行测试，保存测量结果，提高仪器的运行效率。


陶瓷体X射线管功率：2kW 焦点：1X10mm 标准结构、适用国内外X射线仪		制样器：用于粉体衍射样品制作