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安捷伦推出8800型电感耦合等离子体串联质谱仪

2012年3月16日,安捷伦科技在盘古七星酒店隆重举办“安捷伦电感耦合等离子体串联质谱仪新技术与应用VIP研讨会”, 与到会各界专家分享安捷伦ICP-MS研发新成果、全球首款安捷伦推出8800型电感耦合等离子体串联质谱仪(8800 ICP-MS/MS),8800 ICP -MS/MS满足**应用需求,具有可控且持续的干扰消除能力,分析灵活性大大优于单四极杆ICP-MS。
  本次研讨会邀请到钢铁研究总院王海舟院士,国家食品**风险评估中心**专家吴永宁教授,国家环境分析测试中心黄业茹教授,北京光谱协会理事长郑国经教授,厦门大学弓振斌教授,武汉大学胡斌教授,西北大学袁洪林教授等多位国内ICP-MS领域的知名**专家。安捷伦科技生命科学与化学分析事业部大中华区市场经理张伟基先生、化学分析市场经理何峻先生、材料测试与光谱市场经理陈玉红博士、安捷伦科技的ICP-MS全球产品经理Naoki Sugiyama先生、安捷伦科技中国原子光谱产品经理陈登云博士等出席了该会议。研讨会由陈玉红博士主持。

                                                            研讨会现场
首先,来自安捷伦科技公司大中华区化学分析市场经理何峻先生向大家介绍了安捷伦科技*新的进展情况。 

                          安捷伦大中华区材料测试与光谱市场经理 陈玉红博士
接下来,来自安捷伦大中华区材料测试与光谱市场经理陈玉红博士为大家详细介绍了安捷伦科技ICP-MS产品的发展历程。自1984年业界推出了**台商品化的ICP-MS质谱仪以来,早期的ICP-MS技术一直面临着三大难题:(1)质谱干扰;(2)耐盐性差(仅有0.1~0.2%);(3)动态线性范围窄。随着技术的发展,目前ICP-MS耐盐性已提高至1~2%,甚至可以直接进样分析含盐量高达3% 以上的样品(如:未经稀释的海水等);动态线性范围亦拓宽至9个数量级以上;冷等离子体与碰撞/反应池技术则可以有效解决很多日常分析应用中的质谱干扰。但是,目前ICP-MS质谱在应用中的难点仍然存在,主要集中在进行复杂基质中的超痕量分析时所面临的质谱干扰问题。
  安捷伦ICP-MS发展历程
  1987年,安捷伦(以前的HP)与日本Yokogawa电气的合资公司推出全球**台计算机控制的PMS 100 ICP-MS;
  1994年,安捷伦推出业界**台台式HP 4500 ICP-MS,**个采用屏蔽炬技术、、**个(也是**的)使用双曲面四极杆的仪器;
  2000年,推出安捷伦7500系列ICP-MS质谱,**个具有9个数量级检测范围的同时型检测器,**个数字驱动的固态发生器,**个使用局域网通讯进行仪器控制,并首先提出碰撞/反应池在单一氦模式下消除质谱固有干扰;业内首先推出了耐高盐进样系统(HMI),使得ICP-MS的耐盐能力由传统的0.1~0.2%提高至2-3%。
  2009年,推出安捷伦7700系列-提供了**的数据完整性,易于使用,是迄今所有ICP-MS仪器中占用空间*小的台式仪器;该仪器标配安捷伦**的耐高盐进样系统(HMI);此外,在碰撞/反应池池消干扰能力、灵敏度以及软硬件的操作与数据处理等各方面性能都比较早型号更为优异;
  2012年,推出世界首款电感耦合等离子串联质谱系统8800 ICP-MS/MS,能够始终有效地消除复杂基质中未知元素带来的干扰,为应对**研究和解决复杂的分析难题提供了****的灵活性。
  冷等离子体技术
  1994年安捷伦推出业界**台台式HP 4500 ICP-MS,该系统被广泛应用于半导体行业。因为半导体行业对检出限要求非常高,通常要求ppt级的检出限,这也就需要仪器具备非常高的灵敏度,同时ICP-MS质谱仪的同时多元素分析能力也大大满足了半导体行业的需求。
  在半导体行业中,*大的分析难点即为痕量K、Ca、Na、Mg、Fe的分析,由于ICP-MS固有的质谱干扰很难获得上述痕量元素的准确分析结果。HP 4500**引入了冷等离子体的感念,由于有效的冷等离子需要等离子体电势显著降低,以防止接口区域的二次放电导致的多原子电离干扰,安捷伦科技**的屏蔽炬技术能够有效解决上述难题,实现了半导体行业ppt量级的K、Ca、Na、Mg、Fe元素的准确分析,该技术也成为半导体行业痕量分析上述元素的标准技术。
  碰撞/反应池技术
  由于冷等离子体技术耐基质能力相对热等离子体要差很多,所以不太适于环境、食品、矿样这样的复杂基质样品分析。安捷伦在2000年推出了7500系列ICP-MS,并随后推出带碰撞/反应池的7500c/ce/cx/cs等仪器,以进一步消除质谱干扰。陈博士在这里特地为大家介绍了ICP-MS中碰撞/反应池工作的三种主要模式:
  (1)碰撞解离(CID)模式:此方式要求碰撞能量必需大于分子离子键的键能,而多数干扰离子并未能满足此要求,因此该工作方式在ICP-MS中很少能实现;
  (2)碰撞动能歧视(KED)模式:该技术由于采用惰性气体(如氦气),所以无论样品基质如何复杂,都不会有副反应发生,可以有效去除复杂基质内的各种分子离子干扰,充分满足多数应用需求。该模式目前已被成功地广泛应用于大量日常分析中。
  (3)反应模式:在碰撞反应池中通入反应性气体,使得干扰物被电中和或者使待测离子或干扰离子与池内气体反应形成其它质量数的离子,以有效地避免质谱干扰。该工作方式适用于基质简单的样品如超纯试剂与材料,而当样品基质较为复杂时,便会面临样品基质中的任何共存元素都可能与反应气体反应生成新的副产物、从而形成新的干扰离子与目标离子质量数重合, 或待测元素反应后形成的目标离子与基体中的共存元素离子因质量数重合而不能避开其干扰的问题。
  安捷伦7500和7700系列ICP-MS质谱仪均标配碰撞动能歧视(KED)模式,可在简单的单一条件下,即可满足实验人员的日常分析要求。屏蔽炬技术与KED技术的结合,可以有效消除干扰物。如下图所示,待测离子和分子离子干扰以相同的能量进入碰撞反应池,通入氦气,分子离子由于体积较大,受到的碰撞几率大,所以动能损耗大;反之单原子离子体积小、受到的碰撞几率小,动能损耗小,所以两者出离碰撞池口时就会存在动能差,利用该动能差在四极杆前设置截断电压,便可有效地分离干扰物和单原子离子,此方式即为碰撞动能歧视。而屏蔽炬技术在其中的主要作用是使得离子能量集中,因为若离子能量不够集中,干扰物和待测物的离子能量易出现重叠现象,导致不能有效地消除干扰离子。

                                               碰撞动能歧视(KED)模式
耐高盐技术
  传统的ICP-MS仅有1~2‰的耐盐性,安捷伦在08年便推出了**的HMI(High Matrix Introduction)耐高盐技术,该技术通过雾化室和炬管之间的连接管向等离子体中心通道加入一路稀释气,不仅有效避免了离线稀释时引入的大量污染,更重要的是:由于样品在等离子体经历吸热、解离、原子化并电离形成单原子离子等过程,通入稀释气进行HMI功能可以大大提高样品在等离子体中的吸热效率,从而有效提高待测元素的电离效率,并同时使样品基体得以有效的解离,大大提高ICP-MS 的耐盐能力。

                                   HMI(High Matrix Introduction)耐高盐技术
2009年安捷伦推出了7700系列ICP-MS,该系统基于7500系列进行了一些改进,7700系列采用第三代碰撞反应池技术(ORS3),大大提高了在单一氦模式下的消干扰性能,进一步降低了分析检出限。而新型的射频发生器,使其对有机溶剂的耐受性更佳。针对元素形态分析,与液相联用梯度淋洗时急剧切换不同的有机溶剂时,系统仍能够提供极为强劲、稳定的等离子体。7700系列体积相比其它ICP-MS减少30%,同时该系统实现了一键式开关,用户可直接调用分析方法,无需调试任何参数,操作简便。
  陈博士*后指出,目前针对某些行业的特殊应用,现有的 ICP-MS质谱技术仍然存在无法彻底解决的难题,所以ICP-MS质谱技术还需要不断的**发展,从而满足高难度应用的需求。

安捷伦科技ICP-MS全球产品经理Naoki Sugiyama先生与安捷伦科技大中华区市场经理张伟基先生启动揭幕仪式
接下来,安捷伦科技日本ICP-MS产品经理Naoki Sugiyama先生与安捷伦科技大中华区市场经理张伟基先生为大家揭开了安捷伦8800 ICP-MS/MS的神秘面纱。随后,Naoki Sugiyama先生与安捷伦中国的ICP-MS应用工程师荆淼博士分别为大家详细介绍了Agilent 8800 ICP-MS/MS的产品特点与应用。

                                               安捷伦 8800 ICP-MS/MS
安捷伦 8800 电感耦合等离子体串联质谱(ICP-MS/MS, 俗称ICP-QQQ)的性能优于单四极杆 ICP-MS,具有可控且持续的干扰消除能力以及单四极杆仪器所没有的灵活分析能力。安捷伦8800 ICP-MS/MS具有独特的MRM功能,能够**控制进入碰撞/反应池内的离子,因此即使样品组成有所不同,也能保持一致、可预见的反应条件。该款新仪器在一系列的新型反应模式中提供一键式运行,能够始终有效地消除复杂样品中未知元素带来的干扰。同时,安捷伦 8800还能如单四极杆ICP-MS 一样运行,确保复制现有方法和类似方法的**性。
  安捷伦推出8800型电感耦合等离子体串联质谱仪除了保持安捷伦7700系列ICP-MS仪器的性能外,还提供:
  ****的分析性能——8800 ICP-MS/MS具有更高的灵敏度和更低的背景,比之前的四极杆ICP-MS仪器具有更高的性能;
  更为可靠的分析结果——8800 ICP-MS/MS的独特配置可实现MS/MS操作,可在ORS3碰撞/反应池中进行**的反应过程控制。MS/MS模式可灵活选择进入反应池的离子,即使样品成分极为复杂多变,仍能保持一致、可预见的反应,从而获得准确、可靠的痕量分析结果。上述功能有效解决了原先传统反应池在使用反应性气体测定复杂基体时因共存基体或元素易形成新的干扰离子或共存离子导致用mass-shift 法难以获得准确的痕量定量结果等难点;
  极大的灵活性——该技术不仅具有ORS3氦碰撞消干扰的性能,其MS/MS功能还实现了使用反应性气体测定复杂基体中超痕量元素的准确定量,大大提高了半导体、材料、临床与生命科学以及科研等领域的检测性能,以及那些易受质谱干扰的研究及常规分析领域的检测性能。此外,8800 ICP-MS/MS大部分关键部件、耗材,如锥、雾化器等均可与7700系列共享。
  8800 ICP-MS/MS 极适合于众多复杂样品中的未知元素超痕量分析,包括:  
  对复杂基质中易受多原子离子、双电荷离子、同质异位素干扰以及受相邻基体元素同位素拖尾影响的超痕量元素进行分析元素  
  在生命科学应用中定量分析 DNA/核苷酸和蛋白/多肽中的硫磷元素并与色谱联用分析其化合物等。


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