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影响谱线强度的主要因素有以下几个方面：

1、激发电位

由于谱线强度与激发电位成负指数关系，所以激发电位越高，谱线强度越小，这是因为随着激发电位的增高，处于激发状态的原子数迅速减少的缘故。

2、跃迁概率

所谓跃迁率是指电子在某两个能级之间每秒跃迁的可能性大小，它与激发态寿命成反比，即原子处于激发状态的时间越长，跃迁概率越小，产生的谱线强度越弱。

3、统计权重

统计权重亦称简并度，指能级在外加磁场的作用下，可分裂成2J+1个能级，谱线强度与统计权重成正比。当由两个不同J值得高能级向同一低能级跃迁时，产生的谱线强度也是不同的。

4、激发温度

光源的激发温度越高，I越大，但实际上，温度升高，一方面使原子易于激发，另一方面增加了电离，致使元素的离子数不断增多而使原子数不断减少，导致原子线强度减弱，所以实验室应该选择适当的激发温度。

5、基态原子数

谱线强度与进入光源的基态原子数成正比，一般而言，试样中被测元素的含量越大，发出的谱线强度越强。

《原子发射光谱法中影响谱线强度的因素》来源：仪器分析