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美国LEE超声波测厚仪成功上市
美国LEE超声波测厚仪成功上市

      经过我公司技术人员的辛苦努力，美国LEE超声波测厚仪于2011年4月成功上市，型号包括UL150、UL180、UL200，功能强大，测值准确，是国内同类产品所不能比拟的，分辨率分为0.1MM、0.05MM、0.01MM，适合于不同领域的特殊用户，不同探头的选择满足于各行各业，产品优越性可于美国DAKOTA超声波测厚仪所媲美。我们坚信此款超声波测厚仪又将是无损检测用户优选的检测产品。

                                                                             有关产品详细咨询：请拨打北京利宇德科技有限公司销售部

                                                                                                                      2011年4月

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