日本日置新发型IM3536 LCR测试仪上市通知

                                            日本日置新发型IM3536 LCR测试仪上市通知



HIOKI这次发售了LCR测试仪IM3536。IM3536具备4Hz~8MHz宽频率范围，实现高速、高精度测量。满足电子元件的研发和生产等多种领域的要求。

IM3536 LCR测试仪开发背景

电容、电感等电子元件除了用于智能手机、平板电脑等的电子产品外，汽车等各种产品上面也会用到。随着这类使用了电子元件的产品的发展，同时以“高频化”“低阻化”“长寿命化”等角度也要求电子元件具备高性能和高可靠性。比如：为了将智能手机、平板电脑等携带型产品体积更小化，DC-DC逆变器的开关频率高频化，而该电源部分所使用的电感也逐步高频化。而且为了让电脑的CPU等的电源线中所使用的电容适用于急剧的负载变化，要求具备低ESR（电容中串联的电阻成分）和低ESL（电容里串联的电感成分）等特性。

为了测量广泛领域中所使用的电子元件的特性，我司开发了范围广、精度高的LCR测试仪IM3536。

IM3536 LCR测试仪主要用途

电子元件的开发和出货检查

IM3536 LCR测试仪的特点

测量频率4Hz~8MHz，精度保证范围1mΩ和测量范围扩大
以往产品（3532-50）的测量带宽为42Hz~5Mhz，而IM3536的带宽扩大到了4Hz~8MHz。因此，可以测量用于各种领域中的电子元件的特性。特别是，高频率8MHz适用于高频化的电源用电感的测量。
而且，精度保证范围比起以往产品10mΩ以上，IM3536的精度保证为1mΩ以上，因此也适用于有低频化要求的电容等的测量。
和以往产品相比，实现高速、高精度测量
IM3536和以往产品相比改善了测量时间和基本精度。
比起以往产品的测量时间为5ms（0.005秒），IM3536是1ms（0.001秒），测量速度提高了4倍。因此，用于电子元件的产线中时，有助于提高产量。
而且，相对于以往产品的基本精度（代表值）0.08%，IM3536为0.05%，因此适用于有高精度要求的电子元件。
连续测量功能，1台即可完成不同条件的检查
在电子元件的评估中，有时会需要对1个电子元件需要按照不同条件和项目来测量。以往产品因为测量条件的切换时间和测量时间较慢，所以这类多种条件检查会需要多台测量仪器。
IM3536的测量条件的切换和测量实现了高速化，而且IM3536具备连续测量功能（不同测量项目连续测量的功能），因此1台IM3536就可以完成以前多台测量仪器才能完成的测量。 这样，可以简化产线中所用自动检查机的结构，从而实现低价化。
具备提高检查品质的接触检查功能
检查时，发生测试探头的断线、和被测物的接触**时，可能存在测量误差变大等影响测量值准确性的现象。为了防止此类事情，标配了能够知道测试探头断线和接触**的接触检查功能。由此有助于提高检查的品质。