日本日置IM3570阻抗分析仪主要特点

HIOKIIM3570阻抗分析仪是1台实现不同测量条件下的高速检查的仪器，适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量，主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

日本日置IM3570阻抗分析仪一台仪器就可以实现不同测量条件的高速检测要求

　日本日置发售的IM3570阻抗分析仪的测量频率4Hz~5MHz，测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析仪合二为一的仪器。因为对应不同测量条件都能高速连续测量，所以在需要使用众多仪器检查的生产线上，仅IM3570一台便可实现。
　　压电元件的共振特性的测量
　　通过频率扫频测量共振频率和当时的阻抗值，利用比较功能判别是否合格。另外，通过连续测量的功能，1KHz的 C值测量(LCR电桥)和频率扫频测量都能在这一台仪器上实现。
　　功能高分子电容等的C-D值和低ESR测量
　　能够连续测量功能性高分子电容的C-D值以及低ESR(100kHz)
　　与之前的产品(3522-50,3532-50)相比，低阻抗测量时的**精度和反复精度都提升了1位。
　　电感(线圈、变压器)的DCR和L-Q测量
　　连续测量L-Q(1kHz，CC1mA)和DCR，能在同一画面上显示数值。
　　通过扫频测量，能够用图表来显示频率特性和电平特性。
　
日本日置IM3570阻抗分析仪的介绍
　　推荐用于生产线中的特点和功能
按照不同测量条件进行连续测量
　　根据测量对象，1台仪器可连续测量必须的多种测量条件。例如：可进行DCR(直流电阻)和L-Q的连续测量、以及C-D(120Hz)和ESR(100kHz)的连续测量。
通过高速测量加快检查速度
　　缩短测量时间、实现快2ms(1kHz)、1ms(100kHz)。和日置以往产品(代表值5ms)相比，大幅提高了速度，从而有利于增加检查数量。
和以往产品相比，反复精度提高了1位
　　和以往产品相比，将低阻抗测量时、高频测量时的反复精度提高了1位。在提高了测量值的可信度的同时，可缩小设置生产线的判断标准的幅度。
具备接触检查功能
　　利用4端子测量(仅低阻抗高精度模式时)、2端子测量的接触检查功能，可防止测量电极为接触被测物的情况下测量。
测量线可延长至4m
　　利用4端子的结构减小测量线的影响，以测量线长0/1/2/4m来保证精度。便于自动机的接线。
可在内部发生DC偏压
　　仅主机可外加并测量大2.5V的DC偏压。可安心测量钽电容等有极性的电容。
DC~5MHz可使用的4端子探头
　　4端子探头L2000(选件)采用有利于特性阻抗50Ω和提高测量精度的4端子构造，是适合于IM3570的探头。
　　推荐用于研发的特点和功能
频率扫频测量和电平扫频测量
　　可对频率特性(4Hz~5MHz)和电平特性进行扫描和测量。轻松把握特性。
可广范围的改变测量条件
　　测量频率4Hz~5MHz(5位分辨率)
　　测量电平5mVrms~5Vrms(1mVrms分辨率)
触摸屏设计，轻松操作
　　延续以往产品中操作简单的触摸屏设计。采用了彩色液晶面板，能够清晰的显示数据，还具备优良的操作性，从而提高作业人员的工作效率。
U盘
　　可将测量结果和设定保存至前端面板连接的U盘中。
PC控制和PC软件
　　标配RS-232C、GP-IB、USB、LAN。 


 
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