日本三丰SJ-401/SJ-402粗糙度测量仪详细资料：
配备有符合新的ISO,DIN,ANSI和JIS标准的35种的粗糙度测评参数。
一个宽范围、高分辨率的检测器和一个直接驱动元件，提供了在同类产品中更优越的高精度测量。
<检测器>
测量范围：800μm
分辨率：0.000125μm（8μm的测量范围）
<驱动部>
直线度/驱动长度
SJ-401: 0.3μm /25mm
SJ-402: 0.5μm /50mm
无轨检测器和弧形表面补偿使它能有效地评价圆度体表面粗糙度。
特细的阶差、直线度、波度均可用无导轨测量功能测出。
测量数据可以通过RS-232C接口（选件）由外部PC输出。
带有粗糙度参数。
由数字滤波功能可得到全真的表面粗糙度轮廓图。
GO/NG判断功能。
自动校正功能
日本三丰SJ-401 /SJ-402三丰进口粗糙度测量仪技术参数：
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型号
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SJ-401
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SJ-402
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货号
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100V AC
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178-946C/178-956C
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178-940C/178-958C
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120V AC
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178-946A/178-956A
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178-940A/178-958A
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230V AC
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178-946D/178-956D
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178-940D/178-958D
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240V AC
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178-946E/178-956E
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178-940E/178-958E
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测量力
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4mN/0.75mN
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测头半径
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5μm/2μm
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平移范围
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25mm
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50mm
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测量范围
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800μm(±400μm)
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检测器
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检测头:178-397/178-396
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测头:钻石、90°锥角
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检测方式:微分自感应方式
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接头:有/无导轨替换
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评定轮廓
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P,R,W(筛选波型轮廓)，DIN4776轮廓，粗糙度图形，波形图
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估计参数
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Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc(Ppi),P3z,mr,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,Lo,R,AR,Rx,A1,A2
HSC,mrd,δc,Sk,Ku,W,AW,Wx,Wte
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分析图表
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BAC,ADC
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统计数据
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大值，小值，平均值，处理方法，标准公差，次品率，柱状图，GO/NG判断
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数据过滤
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2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50%
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截至波长
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λc:0.08,0.25,0.8,2.5,8mm
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λs:0.25,0.8,2.5,8,25μm
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取样长度（L）
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0.08,0.25,0.8,2.5,8mm
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显示
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LCD
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打印机(内置)
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热敏线型
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放大倍数
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垂直:10X-100,000X
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水平:1X-1,000X
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数据输出
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通过RS232C 接口/SPC数据输出接口
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电源
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通过AC适配器/电池（可充电）
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尺寸
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显示/打印机:307×165×94mm
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驱动/探测元件:63×207.5×99mm
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重量
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显示/打印机:Approx,1.2kg
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驱动/探测元件:Approx,1.03kg
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