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XF812-BP-9300--高分子杂质分析仪 高分子监测分析仪 杂质分析仪详细介绍XF812-BP-9300--高分子杂质分析仪 高分子监测分析仪 杂质分析仪详细介绍
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XF812-BP-9300--高分子杂质分析仪 高分子监测分析仪 杂质分析仪详细介绍
特点：主要用于凝胶层析法分离测定头孢菌素类***中高分子杂质。
1. 检测波长：254 nm （进口紫外光源，214nm-380nm波长范围内可选配）
2. 波长单色性：≤±1nm
3. *小检测量：50 ug / ml
4. 稳定时间：＜20 min
5. 基线漂移：≤±1.0×10-3Au/h
6. *大流量：10 ml / min （特殊需要可另配）
7. 配接记录仪信号：0 – 10 mV
8. 配层析柱固定架
9. 使用环境温度：0 – 30℃
10. 工作时间：连续
高分子杂质分析仪 高分子监测分析仪 杂质分析仪
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