产品详情
简单介绍：
数显薄膜薄片测厚仪 数显薄膜薄片测厚仪适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（*大测量深度为80mm）。数显薄膜薄片测厚仪
详情介绍：
技术指标：
测量范围与准确度：0mm～12.7mm ≤0.005mm
分 度 值：0.001mm
执行标准：GB/T6672-2001 MOD ISO 4593-1993
概述：
数显薄膜薄片测厚仪适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（*大测量深度为80mm）。
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