全自动抗干扰介质损耗测试仪工作原理与设备结构概述
启动测量后高压设定值送到变频电源,变频电源用PID算法将输出缓速调整到设定值,测量电路将实测高压送到变频电源,微调低压,实现准确高压输出。根据正/反接线和内/外标准电容的设置,测量电路根据试验电流自动选择输入并切换量程,测量电路采用傅立叶变换滤掉干扰,分离出信号基波,对标准电流和试品电流进行矢量运算,幅值计算电容量,角差计算tgδ。反复进行多次测量,经过排序选择一个中间结果。测量结束,测量电路发出降压指令变频电源缓速降压到0。
CVT测量:CVT隔离开关断开,低压隔离开关接通输出低压。测量C2时,CVT倒线开关接通,C2接入试品通道,用C1作标准电容测量C2。
全自动抗干扰介质损耗测试仪产品结构
测量电路:傅立叶变换、复数运算等全部计算和量程切换、变频电源控制等。
控制面板:打印机、键盘、显示和通讯中转。
变频电源:采用SPWM开关电路产生大功率正弦波稳压输出。
升压变压器:将变频电源输出升压到测量电压,*大无功输出2kVA/1分钟。
标准电容器:内Cn,测量基准。
Cn电流检测:用于检测内/外标准电容器电流。
Cx正接线电流检测:只用于正接线测量。
Cx反接线电流检测:只用于反接线测量。
反接线数字隔离通讯:用高速数字隔离通讯电路,将反接线电流信号送到低压侧。
沪公网安备 31011402005121号