美国GE粗晶探头功能与介绍：
粗晶探头
纵波探头能适用于检测粗晶材料、原始的铸造材料，奥氏体和奥氏体焊缝等。
对于普通探头，由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致，这样容易造成缺陷漏检。所以，检测粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部奥氏体焊缝，并得到一些满意的结果，这主要取决于被检测材料的声学特性。
我们一直致力于解决这个问题，我们选择不同焦点的单晶探头和TR探头进行实验，得到检测粗晶材料的*佳探头参数。与此同时，我们得到了奥氏体材料制造商的大力支持。根据我们的经验和实验，我们针对各种粗晶粒材料设计了相应的探头，这些探头都取得了*佳的效果。
此外，这些测试结果还获得了*佳信噪比，并且所有的粗晶探头都通过纵波探伤。
K 0.5 S K 1 S K 1 SM 这三个型号：高阻尼高灵敏度非常好的信噪比
B 0.5 SL B 1 SL 这二个型号：非常好的灵敏度高阻尼，高信噪比
K 1 SC 这个型号： 复合材料压电晶片*好的灵敏度和信噪比
附件：1. 45度纵波楔块（可以要求其他角度的楔块）
2. 薄膜
3. 探头线
纵波斜探头—单晶系列，复合材料压电晶片
WRY 45 WRY 60 WRY 70 WSY 45-2 WSY 60-2 WSY 70-2 WSY 45-4 WSY 60-4 WSY 70-4
要求的探头线：MPKL 2
双晶系列纵波斜探头—复合材料压电晶片
VRY 45 VRY 60 VRY 70 VSY 45 VSY 60 VSY 70
要求的探头线：SEKL 2 SEKN 2
咨询电话:0755-8398 1166 www.china-ge.net
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