特性：非常好的近场分辨率
主要应用： 通常：近表面的小缺陷的探测和评估。聚焦区域内较大缺陷以及平行于表面分布的缺陷的扫描。剩余壁厚的测量（即使在提高温度的情况下）。
注释：
粗体=优选探头，带简短注释说明
O= 提供探头数据表
O= 提供DGS标尺
关于表中数据的解释，见第4页中选择标准。关于声束形状见第37页中声束形状编号。
美国GE-带延迟线TR直探头
类型
[订购号码]
a×b [mm]
f [MHz]
AB* [mm]
N [mm]
EB [mm]
声束形状
编号
备注
草图
特性带宽：65%
DA0.8G
20Ø
0.8
3-400
35
8
0.8-20/2
用于高衰减
类型15
特性带宽：40%
SEB1
SEB2
SEB2-0°
SEB4
SEB4-0°
21Ø
7×18
6×20
1
2
4
2-1000
4.5-2000
1.5-2000
4-4000
20
15
30
12
25
10
5
2.5
1-21/2
2-7×18
2-7×18-0
4-6×20
4-6×20-0
0°意味着
两个单元的
公共角度是
0°
带宽100%
类型16
类型17
MSEB2
MSEB4
MSEB4-0°
MSEB5
11Ø
3.5×10
9Ø
2-400
1-1500
0.5-200
18
2-11/2
4-3.5×10
4-3.5×10-0
5-9/2
SEB2KF5
SEB4KF8
SEB5KF3
8 Ø
1.5-350
0.8-400
0.5-80
6
3
2-8/2
4-8/2
5-8/2
SEB10KF3
5 Ø
0.3-140
0.5
10-5/2
类型18
SEZ5M5
3 Ø
0.6-50
5-3/2
固定电缆
(2m)
类型19
合成单元，特性带宽70%
SEK2C
1.5-1500
MSEK2
MSEK4
11 Ø
1.5-450
1-2000
*) 用于无衰减材料时规定的工作范围上限。实际上，如果频率增加，则上限急剧降低。
提供其它频率、单元直径、带宽或设计的探头。
我们还有大量的特殊探头可以用于在热表面上的测量（请见28和29页）
附件描述
探头电缆（2米）
耦合剂
SEKG2
SEKM2
ZG-F
用于SEB..,SEK..,MSEB..,
MSEK.., DA0.8G
用于SEB.KF.
见36页