美国GE超声波探头 IAP-..25.3.2

美国GE超声波探头

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产品名称：美国GE超声波探头
产品型号：IAP-..25.3.2
产品展商：美国GE
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简单介绍

美国GE超声波探头IAP-..25.3.2： •单晶探头用于超声脉冲的发射和接收美国GE超声波探头IAP-..25.3.2•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试） •完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座

产品描述

美国GE超声波探头IAP-..25.3.2

特性：非常高的分辨率，聚焦声束宽度非常小

A-..和IAP-..：用于由金属和非金属材料制成的零部件中*小缺陷的探测，有非常高的分辨率，这些缺陷在零部件表面下分布展开：例如半导体基体、电气插头和表面保护层中的材料分离、气孔和杂质等。同样地，它还可以应用于扩散焊接、电阻焊接和粘合焊接等的测试，以及由陶瓷、粉末金属、钛和其它合金制成的预制成型零部件的测试。

美国GE超声波探头IAP-..25.3.2

压电高聚物高频直探头

特性：非常高的分辨率，聚焦声束宽度非常小

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美国GE超声波探头