应用
• 高分辨率缺陷探测，如：微孔隙检测或微裂纹检测。
• 表面断裂或不平整性的C扫描成像。
• 可测量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可对陶瓷及上等工程材料进行检测。
• 可对材料进行分析。
*厚度范围取决于材料、探头、表面条件、温度及所选的的设置。
奥林巴斯高频水浸探头
高频标准水浸外壳
• 长久熔融石英延迟块。
• 聚焦单元使用一个高质量的光学研磨透镜。
• F202适配器可固定被动UHF连接器和主动Microdot连接器
• 将高频率和小外壳设计的特点结合在一起。
规格参数:
频率
标称
晶片尺寸
延迟
聚焦长度
探头
工件编号
MHz
英寸
毫米
微秒
20
0.25
6
4.25
平
V354-SU
2.5
0.75
19
V372-SU
1.25
32
V373-SU
2
51
V374-SU
30
V356-SU
2.25
V375-SU
V376-SU
V377-SU
50
V358-SU