德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用手动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。
简介:
典型的应用领域有:
可选: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER
执行标准
如有特殊要求,可与FISCHER磋商,定制特殊的XDL型号。
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