物性测试 - 甘沃实业（上海）有限公司

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	PS50型三维表面形貌仪 PS50型三维表面形貌仪	PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际**的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。
	亚微米/纳米激光粒度仪 BI-90Plus	90Plus亚微米/纳米激光粒度仪基于动态光散射原理，是一种快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。动态光散射原理：由于颗粒在悬浮液中的布朗运动，使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器技术处理脉冲信号，可以得到颗粒运动的扩散信息后，进而利用Stokes－Einstein方程计算得出颗粒粒径及其分布。
	纳米激光粒度仪Zeta电位分析仪 Omni多角度纳米激光粒度仪及高灵敏度Zeta电位分析仪	Omni多角度纳米激光粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，硬件PALS技术解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精准测量，是功能强大的纳米激光粒度仪与Zeta电位分析仪。
	表面缺陷检测与控制PhoeniX PhoeniX	表面缺陷检测与控制PhoeniX是一款用于圆形零件和异形零件的尺寸和表面控制的视觉检测设备。表面缺陷检测与控制PhoeniX可以检测产品的表面，控制主要的缺陷，例如：划痕、毛边、缺料、小孔、复膜、真圆度、同心度等。
	表面缺陷检测与控制MatliX MatliX	表面缺陷检测与控制MatliX是一款用于圆形零件和异形零件的尺寸和表面控制的视觉检测设备。表面缺陷检测与控制MatliX可以检测产品的表面，控制主要的缺陷，例如：划痕、毛边、缺料、小孔、复膜、真圆度、同心度等。
	全自动折光仪 JH300/JH500	佳航JH300／JH500 全自动折光仪配备高性能线阵CCD感光部件，通过高速、高精度的信号采集和分析处理技术，配有半导体帕尔贴超级温度控制系统。该系列全自动折光仪能高效、高**测量透明、半透明、深色、粘稠状等各类液体的折射率(nD)和糖溶液的质量分数（锤度Brix）。
	折光仪 IR100系列	仪迈Insmark的IR100系列智能折光仪，精度达到高水平0.00001，友好的中文彩屏界面及中英文输入功能，符合GLP、国际糖度标准，提供新鲜的标准液，确保测量的准确性。IR100系列智能折光仪具有测量系统自动监控，补偿和报警功能。
	数字旋光仪 IP-digi600系列	仪迈Insmark的IP-digi600系列数字旋光仪，分辨率双精度可选；GLP模式，数据溯源，电子签名；IP-digi600系列数字旋光仪可连接任意打印机，安装网络打印机；配制Glan Thompson棱镜，测量更稳定、更精准；用户标准样品比对测量；在线咨询，服务功能；在线编辑，打印测试报告；用户可编辑、命名并存储多种常用样品的测量程序。
	数字旋光仪 IP-digi300系列	仪迈Insmark IP-digi300系列数字旋光仪，技术指标与模拟旋光仪相比很多提升。8″彩色触摸屏，友好的操作界面。提供外部石英管校准配件Super A-Box。该款数字旋光仪符合多种测量规范及药典，数据溯源。可订制其他波长。
	X-射线结构分析 SAXSpace纳米结构分析仪	SAXSpace纳米结构分析仪(X-射线结构分析）使用小角和广角X-射线散射(SAXS/WAXS) 方法研究纳米结构，研究对象包括蛋白质、食品、药品、聚合物和纳米复合材料、纳米粒子和催化剂等。
	简易型全自动折光仪 Abbemat 200	Abbemat 200简易型全自动折光仪，该款简易型全自动折光仪不仅具备了所有的基本功能，简洁直观，开箱即用，而且几乎涵盖折光仪所有的应用行业。无需专用的工业解决方案。
	高性能和高.端模块化系列折光仪 Abbemat 300/350/500/550折光仪	Abbemat 300/500 高性能和高.端模块化系列折光仪日常分析和质量控制的解决方案，而Abbemat 350/550 高性能和高.端模块化系列折光仪则主要是为研发和苛刻的质量控制应用而设计。
	三维尺寸及表面缺陷检测仪三维尺寸及表面缺陷检测仪	三维尺寸及表面缺陷检测仪是一款用于圆形零件和异形零件的尺寸和表面控制的视觉检测设备。可以检测产品的表面，控制主要的缺陷，例如：划痕、毛边、缺料、小孔、复膜、真圆度、同心度等。
	高精度智能旋光仪 MCP 100/200/300/500旋光仪	MCP系列高精度智能旋光仪是一款运用于研究和工业领域的智能化旋光仪。该仪器可通过准确测量液体样品的旋光度，利用公式来表征光学活性物质的浓度或比旋度,是真正意义上的高精度智能旋光仪。
	基准级光泽度仪远方HAG-2000	HAG-2000是实现基准级光泽度绝.对和相对测量的科学级仪器，主要用于光泽度标准板检定，光泽标准数据量值传递。可精准测量20°、45°、60°、75°、85°的光泽度值，以及绝.对镜面反射率分布曲线。绝.对测量方式避免了相对测量中因标准板和被测板镜面反射率空间分布差异所导致的测量误差，测量更加可靠，系统角度精度高、测量重复性好，测量精度高。
	双向反射/透射空间分布测量系统远方BBMS-2000	BBMS-2000双向反射/透射空间分布测量系统可全方位分析测量材料表面的反射、透射特性，可测参数包括材料的双向透射分布（BTDF）、双向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、总反射（TIR）、总散射（TIS）等，可广泛应用于金属、塑料、纸张、纺织品、玻璃、涂面、光学膜材料等诸多材料的表面光学特性的定量分析，其BRDF/BTDF数据可以导出至光学设计软件中，用于光学系统模拟设计。
	紫外可见近红外透射反射测试远方TR-5000测试系统	测量各类薄膜、玻璃以及镜片等的可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比，及材料的光谱透射率/反射率曲线，并对材料的颜色特性进行分析，实现280nm-2500nm极宽的测量范围，满足GAT744-2013 标准要求。
	远方雾度计远方HAM-200	主要包括：1）远方HAM-200雾度计硬件 2）远方雾度分析系统软件V2.00_HazeSuite 采用高精度光度探测器，实现380-780nm波段的精准光度匹配。系统主要用于材料透光率，雾度测试，一体化设计，夹持样品的空间大，满足不同尺寸样品的测试需求，依据ASTM D1003，GB/T 2410，JISK7105-81，ISO14782、JIS K7136、JC/T2130-2013等标准的要求。
	远方标准光源对色灯箱远方VCA-3300标准光源对色灯箱	VCA-3300标准光源对色灯箱采用远方技术和PHILIPS、GE、OSRAM、SYLVANIA等国际品牌光源，配合具有漫反射特性的远方公司专用诗贝伦涂层的匀光装置，精准匹配和准确模拟多标准要求的光色环境，满足ASTM、CIE、ISO、GB和JJG等国内外标准，为提高颜色比对的一致性和可靠性提供了技术保证。
	远方标准光源对色灯箱远方VCA-1100标准光源对色灯箱	VCA-1100标准光源对色灯箱采用PHILIPS、GE、OSRAM、SYLVANIA等国际品牌光源，配合具有漫反射特性的远方公司专用诗贝伦涂层的匀光装置，精准匹配和准确模拟多标准要求的光色性能，满足ASTM、CIE、ISO、GB和JJG等国内外标准，为颜色比对的一致性和可靠性提供技术保证。

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