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产品资料

XS系列分析天平

XS系列分析天平
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:XS系列分析天平
  • 产品型号:
  • 产品展商:梅特勒
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
XS系列分析天平
产品描述

技术参数


型号

*大称量值

[g]

可读性

[mg]

重复性(sd

[mg]

线性误差

[mg]

典型稳定时间

[s]

秤盘尺寸

W×D[mm]

XS105DU 41/120 0.01/0.1 0.02/0.1 0.2 4/1.5 78×73
XS205DU 81/220 0.01/0.1 0.02/0.1 0.2 4/1.5 78×73
XS64 61 0.1 0.1 0.2 1.5 78×73
XS104 120 0.1 0.1 0.2 1.5 78×73
XS204 220 0.1 0.1 0.2 1.5 78×73
XS204DR 81/220 0.1/1 0.1/0.7 0.5 3.5/1.5 78×73

DR=变量程;DU=双量程;sd=标准偏差

 


性能特点


●采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

●优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

●完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁

●丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量

GWPExcellenceTM一体化**功能,确保天平始终正确工作

 

触摸屏(TouchScreen:背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂,帮助您有效节省操作时间。

 

网格秤盘(SmartGird:有效降低称量室中气流对称量的影响,从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错,样品会直接散落在网格秤盘(SmartGird)下的金属底盘上,因而不会影响称量结果,且不浪费您的样品。


适用范围


建议配置


选配件


ErgoClips(选件):易巧称量组件,可轻松放置圆底烧瓶、试管等去皮容器,实现微量样品的直接称量。

 

密度测定1:轻触一下按键,启动密度测定程序,天平将指导您逐步完成操作步骤并自动计算触密度结果。

1)需订购密度组件(选件)配合使用。

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