OLYMPUS LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜（LSM）以及扫描探针显微镜（SPM）功能的一体机。LEXT OLS4500可以满足不同样品的观测需求，是一台新时代的观察、测量装置。
LEXT OLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的观察和测量，放大倍率由几十倍到高达百万倍。找到观测目标（观察对象）后，您可以在光学显微镜模式、激光显微镜模式和探针显微镜模式之间自由切换，而不用担心目标丢失。并且您可以使用探针显微镜迅速而正确的完成观察，大大缩短了获取影像的时间。这些便是OLS4500一体机的自由操作带给您的益处。
更加方便、更加顺利地完成超大范围观察和测量。 实现了自由切换操作的LEXT OLS4500，闪亮登场。
♦ 光学显微镜的原理和特长
光学显微镜是从样品上方照射可见光（波长约400nm~800nm），利用其反射光成像，能够放大样品数十倍到一千倍左右进行观察。光学显微镜的特长是可以真实观察彩色样品，还可以切换观察方法，强调样品表面的凹凸，利用物质特性（偏光性）进行观察。OLS4500上可以使用下述观察方法。
明视场观察 可以获取颜色信息。 纸张上的墨点
♦ 激光显微镜的原理和特长
可进行亚微米级观察和测量的激光显微镜（LSM: Laser Scanning Microscope)
光学显微镜的平面分辨率很大程度取决于光的光子和波长，采用短波长的激光显微镜（LSM） 比采用可见光的传统显微镜，拥有更高的平面分辨率。
LEXT OLS4500采用405nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统，可以达到0.12µm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型2D扫描仪，可以实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。
**的Z轴测量
高度测量(微透镜)
♦ 探针显微镜的原理和特长
可以观察纳米级微观世界的探针显微镜(SPM: Scanning Probe Microscope)
探针显微镜的原理
通过微悬臂扫描进行纳米级观察
OLS4500上采用了光杠杆法——通过高灵敏度检测出*前端装有探针的微悬臂的微小弯曲量（位移）来进行观测的方法。在悬臂的背面反射激光，并用压电元件驱动Z轴，使激光照射到光电检测器的指定位置，从而正确读取Z方向的微小位移。
多种观察模式在影像中呈现表面形状和物性
探针显微镜拥有多种观察模式，可以观察、测量样品表面的形状，还可以进行物性分析。OLS4500配有以下模式。
*该模式为选项功能。
高分子薄膜
决定高精细度、高质量影像的微悬臂
探针位于长度约100µm~200µm的薄片状微悬臂的前端。您可以根据样品选择不同的弹簧常数、共振频率。反复扫描会磨损探针，所以请根据需要定期更换微悬探针。