单片OLED器件IVL测量

单片OLED器件IVL测量

系统概述
对于OLED科研类机构用户，仅考虑测试功能和精度，不考虑测试效率的情况下，可选择单工位的IVL及视角测试系统。与多工位机台相比，仅保留一个带视角的工位和治具，机台尺寸更紧凑。同时可取消选配工业视觉对位相机。

I-V-L曲线测量的设定
1.可以设定起始电压、终止电压、电压步长，进行连续的测量
2.可以设定起始电流密度、终止电流密度、电流密度步长，进行连续测量
3.可以单独设定电流密度的亮度检测下限值，低于下限值时仅测电流电压，超过下限值后同时测电压电流亮度等数据
4.可以设定并保存设定的机种参数，下次测量时可以直接调用

I-V-L的测量数据
测量的结果包括：亮度L(cd/m2)，电流效率(mA/cm2)，发光效率，外量子效率，色坐标(x，y)，色温，显色指数CRI，发光光谱.
输出的测量项报表中的图表包括：Cdens-V，Cdens-L，Cdens-LumE，Cdens-EQE，CIE1931，Spectra

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