常温下硅光电式的OLED器件寿命测试

产品名称：常温下硅光电式的OLED器件寿命测试

产品型号： FS-MP系列

产品展商： Fstar

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系统概述
本系统有多组独立的测量通道。
每组测量通道有独立的电压输出、电流输出、电压测量、电流测量、相对亮度测量。
每组测量通道可以独立设置测量参数，包括三段测量时长、测量时间间隔、停止测量判定条件等。
每组通道均可以独立开始测量和停止测量。
数据报表具备实时保存功能，不用担心数据丢失。
治具采用探针接触方式，兼容顶发射和底发射产品。通道的数量可选配，常用型号有32通道、64通道、96通道。

系统特点

1.极高的电源输出电源测量精度
系统采用了20bit分辨率的数据采集模块，对所有通道的输出的电压、电流和硅光电相对亮度进行测量，同时软件可根据系统测得的电压电流值来修正电源的输出，使电流的输出误差小于2uA。

2.硅光电的暗电流噪声的测量和扣除
即使在完全没有光照的情况下，由于环境温度（热量）的存在，硅光电仍会产生一个微弱的电流，称为暗电流噪声。暗电流噪声不是固定值，其随温度的增加而增大。弗士达公司的硅光电寿命测试机台，会在亮度测量开始前，先测量每个硅光电二极管的暗电流噪声并保存。每次硅光电电流的测量结果都会自动减去暗电流噪声，以硅光电电流净值来计算亮度。

3.极高的相对亮度测量准确性
得益于系统的高精度测量、硅光电暗噪声消除和以及滨松硅光电大于99.5%的线性度，整个系统的相对亮度测量准确性极高。在不同电流值下测得的相对亮度与使用IVL机台测得的优良亮度相比，误差小于0.5%。

4.丰富了硅光电脉冲模式的测试需求
可以实现所有通道进行脉冲模式的测量，可以进行偏置电压，振幅，频率，占空比等参数设定（选配功能）

5.测试预处理功能更加完善
除了温度以外，软件还可以设定电压，电流，脉冲电压，脉冲电流等4种模式的预处理，且可以设置两段预处理周期，方便实现温度预处理后进行电压电流预处理，并且可单独保存预处理和寿命测试的数据；

6.配套增加了寿命数据查看小程序
可将当前数据和之前测试的数据添加到数据列表中，生成寿命曲线，方便客户对比前后测试结果。

软件功能
（1）测量模式：恒压、恒流、恒亮模式
（2）测量图表：衰减比实时电流/电压/衰减曲线
（3）测量时间：三个时间段设计，每个时间段可以分别设置测量时间间隔等参数
（4）发光点测量的独立性：每个发光点可以独立设置电压或电流等参数，共有96组电压和96组电流输出,以及96组电流和电压的独立测量
（5）光学寿命测量时,每个发光点可以独立开始和停止测量,每个发光点均可设置独立的三段测试时间和间隔.支持用户在测试过程中,增加或更换其中几片产品
（6）图表实时查询：支持图表在测量过程中实时查询，不必等待测量结束后再看数据和图表
（7）曲线图：支持选择电压、电流、亮度衰减、寿命时长等数据，在图表里显示曲线。
（8）测量前预处理功能：可以设定的需要预处理的温度值、电流、电压值和时间等参数，正常测量前先以预处理条件进行老化，然后再进入正常寿命测试程序。
（9）数据实时存储，异常恢复后可找回数据并继续测试（中断的时间不累积，能自动减除）
（10）Datalog及Eventlog实时记录

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