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环境温湿度控制下OLED器件寿命测试

产品名称: 环境温湿度控制下OLED器件寿命测试
产品型号:
产品展商: Fstar
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环境温湿度控制下OLED器件寿命测试
根据用户不同温湿度环境测试需求,可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等,对器件的寿命测试环境进行控制。

其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。


标准恒温恒湿箱参数
温度范围: -40~100 ℃ (标准型,其它温度范围可订制)
温度均匀度:±2.0℃
温度波动度: ± 0.5℃
温度精度:1 ℃
升温速度: 1.0~3.0℃/min
降温速率: 0.7~1.2℃/min
湿度范围:30%~98%RH (标准型,其它湿度范围可订制)
湿度波动度:±1.5%R.H
湿度偏差:±2.5%R.H

软件功能
(1) 测量模式:恒压、恒流、恒亮模式
(2) 测量数据:测量时间、样品信息、电流、电压、光感电压、预估寿命、亮度衰减比、温度
(3) 测量图表:衰减比实时电流/电压/衰减曲线
(4) 测量时间:三个时间段设计,每个时间段可以分别设置测量时间间隔等参数
(5) 发光点测量的独立性:每个发光点可以独立设置电压或电流等参数,共有96组电压和96组电流输出,以及96组电流和电压的独立测量
(6) 光学寿命测量时,每个发光点可以独立开始和停止测量,每个发光点均可设置独立的三段测试时间和间隔.支持用户在测试过程中,增加或 更换其中几片产品
(7) 图表实时查询:支持图表在测量过程中实时查询,不必等待测量结束后再看数据和图表
(8) 曲线图:支持选择电压、电流、亮度衰减、寿命时长等数据,在图表里显示曲线。
(9) 测量前预处理功能:可以设定的需要预处理的温度值、电流、电压值和时间等参数,正常测量前先以预处理条件进行老化,然后再进 入正常寿命测试程序。
(10) 数据实时存储,异常恢复后可找回数据并继续测试(中断的时间不累积,能自动减除)
(11) Datalog及Eventlog实时记录

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