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变频抗干扰介质损耗测试仪详细技术参数
变频抗干扰介质损耗测试
仪详细技术参数
1、抗干扰方式:变频抗干扰
2、测试方式:正接法 反接法 自激法 外接法
3、测量范围:
电容量:内接高压 <3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV
外接高压 3pF~0.3μF/10kV *小分辨率 0.01pF 有效数字五位
介损:不限,*小分辨率0. 01%
4、准确度:
电容量:±(1.5%读数+2pF) 介损:±(2%读数+0.09%)
内接试验电源:0.5~10kV 电压缓升缓降 45、50、55、60、65Hz单频
45/55Hz自动双频测试 *大输出电流200mA
自激电源3~50V变频 *大输出电流20A
5、测量时间:约30秒(与测量方式有关) 6、附加功能:100组数据存储
6、输入电源:供电电源180~240VAC 50Hz(市电或发电机供电)
7、工作环境:温度范围:-10℃~50℃ 相对湿度<90%
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