x射线荧光镀层测厚分析仪

x射线荧光镀层测厚分析仪T300S是公司自主研发设计得一款独具质感且具有性价比的膜厚仪，价格合理，物超所值，轻松快速解决各平面件常规镀层、电镀液检测，检测精度高且能自动判定测试结果。

应用领域

▪电镀镀层厚度分析  ▪紧固件  ▪五金配件  ▪汽车零部件  ▪电镀液分析

技术参数

测量元素范围

S（16）-U（92）

探测器

Si-Pin 半导体探测器

X 射线发生装置

** X 射线管

算法

FP 算法

分析软件

可同时分析 5 层镀层，24 种元素

信号处理器

数字多道技术

高压

0-50KV 智能程控高压系统

准直器

标配Φ0.5mm

样品观察

工业 CCD 高清摄像头

放大倍数

光学放大 30 倍

**系统

多维散热系统、多重辐射**系统

软件操作

智能分析、一键操作

外观尺寸

414*416*362mm

腔体尺寸

268*307*97mm

检测实例

下表为：紧固件ZnNi/Fe含量与厚���测试数据



性能优势

即放即测

开槽腔体设计，放置样品后快速无损分析出结果

一键操作、自动匹配

一键无标样测试，自动识别物料，几秒快速出结果却**稳定，减少误选带来的测试误差

高分辨率探测器

分辨率低至129eV±5eV，能量线性和能量分辨率俱佳，具有更高的稳定性和精度

智能化软件

人性化的软件界面，灵活的数据显示与编辑、导出，操作智能、便捷

多重保护系统

仪器硬件功能实时监控，多重**保护装置，让您的使用更加放心

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