C测试仪 3504-40是一款由日置公司推出的优良产品。C测试仪 3504-40，独到，准确性高，性能稳定，品质可靠，自推出以来就广受业内人士的好评。
基本参数 Bitmap 测量参数 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ） 测量范围 C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 基本确度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数 测量频率 120Hz, 1kHz 测量信号电平 恒定电压模式: 100mV (**3504-60) 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz) 输出电阻 5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外） 显示 发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定） 测量时间 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 机能 4端子控制检测功能（**3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外） 电源 AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大110VA 体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg 附件 电源线×1，预备电源保险丝×1