深圳市京都玉崎电子有限公司

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光学设备、电子计测仪器、科学仪器、机械加工设备、环境试验设备、PC周边用品、作业工具用品、物流保管用品、化学用品、FA自动化

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新闻详情

山高SWT-NEOⅡ，NEOⅢ 双型膜厚仪新款

日期：2024-11-08 11:27

浏览次数：48

摘要：SWT-NEOⅡ/NEOⅢ 双型膜厚仪

测量范围

取决于连接探头（单独出售）

显示方式

图形液晶显示器

校准曲线校准

2点校准

校准曲线内存

NEO-Ⅱ：10
NEO-Ⅲ：100

测量记忆

NEO-Ⅱ：20,000点
NEO-Ⅲ：40,000点

数据传输

USB、特定低功率无线电 (NEO-III)

电源

AA 碱性电池 (1.5V) × 2 连续使用时间（25 小时*）
AC 适配器
自动关机功能
**大值（可能因使用条件而异。）

工作温度

0 至 40°C（无冷凝）

机身尺寸

72(W)×30(H)×156(D)mm

重量

约200g（含电池）

配件

电池、便携硬盒、手带线、保修卡和用户登记
表、使用说明书（包含在驱动光盘中）、AC适配器、USB传输线、驱动光盘

探测

请根据被测母材选择。

选项

专用打印机单元 (SWT-NEO III ) 用于探针
、铁基体 (Fe)
、有色金属基体 (NFe)、
铁基体和非铁基体 (FN-325 )