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涡流测厚仪的测试原理

日期：2024-12-27 12:03
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摘要： 涡流涂层测厚仪通常是一种接触式的仪器，而不是非接触式的。在测量时，探头需要与被测涂层表面接触，并在涂层表面上移动以测量涂层厚度。探头通常是一个圆锥形或圆盘形的传感器，其下端是一个涂有导电涂层的绝缘基座，涂层的厚度可以通过检测电容器电容的变化来计算。 涡流涂层测厚仪利用涡流感应原理，当交变电流通过探头的线圈时，在被测涂层表面产生一个交变磁场。涂层内部的涡流会抵消掉探头线圈产生的磁场，使探头感应到的磁场变弱。涡流的强度与涂层厚度成反比，因此可以通过测量探头感应到的磁场变化来计算涂层...

涡流涂层测厚仪通常是一种接触式的仪器，而不是非接触式的。在测量时，探头需要与被测涂层表面接触，并在涂层表面上移动以测量涂层厚度。探头通常是一个圆锥形或圆盘形的传感器，其下端是一个涂有导电涂层的绝缘基座，涂层的厚度可以通过检测电容器电容的变化来计算。


涡流涂层测厚仪利用涡流感应原理，当交变电流通过探头的线圈时，在被测涂层表面产生一个交变磁场。涂层内部的涡流会抵消掉探头线圈产生的磁场，使探头感应到的磁场变弱。涡流的强度与涂层厚度成反比，因此可以通过测量探头感应到的磁场变化来计算涂层的厚度。


涡流涂层测厚仪适用于测量电绝缘性或部分绝缘性涂层在导体表面的厚度。对于非绝缘性涂层，涡流测厚仪的准确性可能会受到干扰，因此在使用时需要进行校准，并根据被测涂层的类型和特性选择合适的探头。


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