膜厚计

探测头型号

FN-325

测量方式

电磁式·涡电流式两用（铁·非铁底材自动识别）

测量范围

铁底材：0～3.00mm、非铁底材：0～2.50mm

表示分辨率

1μm：0～999μm的切换（铁·非铁共通）

      0.1μm：0～400μm（铁·非铁共通）

      0.5μm：400～500μm（铁·非铁共通）

0.01mm:1.00～3.00mm（铁底材）

0.01mm:1.00～2.50mm（非铁底材）

测量精度

（平滑表面）

0～100μm：:1μm（铁·非铁共通）

或者是指示值的±2%以内

101μm～3.00mm:±2%以内（铁底材）

101μm～2.50mm:±2%以内（非铁底材）

探测部

1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g

选择产品

V形探测头套有3种（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）

附属品

标准校正板、试验用零校正板、（铁用·非铁用）

测量对象

铁底材：铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、

        电镀（电解镍除外）等

非铁底材：铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等

          一般较普遍的测量物用