LH-200J涡流膜厚计，日本凯特KETT牌膜厚计

LH-200J涡流膜厚计，日本凯特KETT牌膜厚计

●仕様	LH-200J
測定方式	渦電流式
測定対象	非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲	0～800μmまたは32.00mils
測定精度	50μm未満：±1μm、50μm以上：±2％
分解能	100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm
適合規格	JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統計機能	測定回数・平均値・標準偏差・*大値・*小値・ブロック番号
プローブ	一点接触定圧式（LHP-J）
表示方法	デジタル（LCD、表示*小桁0.1μm）
外部出力	RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps）
電源	AC100V（50/60Hz）または 電池1.5V（単3アルカリ）本体部×6、プリンタ部×4
寸法・質量	120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg
付属品	標準板、アルミ素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、 ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプション	RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」