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如何测试电源供应器的输出杂讯
1.1. 定义
输出杂讯之定义：此杂讯为一交流成份，附着于直流准位之上，此交流成份包含周期性与随机性之讯号，英文称为 PARD（Periodic And Random Deviation），其波形如下图：
图一 ...交换式电源供应器的输出杂讯波形1.2. 输出杂讯之控制
由于交换式电源供应器采用高频切换 (20 KHz 以上) 技术，配合脉波调变 (PWM) 及输出滤波电路，可以将市电转换成 IC 电路所需之直流电压，例如 +5V、+12V、-5V、-12V、+3.3V 等电压，惟经此种转换后的副作用是在直流成份中含有少许的交流成份，若此交流成份 (以下称为杂讯) 过大则会使应用之电路产生误动作，以 5V 为例若直流中心电压为 5.00V，杂讯若为 1.0 Vp-p则任何瞬时值的电压可能已经超过 4.75V - 5.25V 之容许范围，（此为一般逻辑 IC 正常之工作电压范围），因而可能误动作或当机出现，因此输出杂讯影响不可谓不小。一般而言,交换式电源供应器之输出杂讯规格为其输出直流电压的1% 以下,例如以 +5V、+12V 为例,其输出杂讯规格分别为 50m Vp-p 与120m Vp-p.
2. 输出杂讯之检测
2.1. 示波器
应使用差动式输入之示波器，因为一般示波器的输入 BNC 之负端是与示波器机壳相连通的，而示波器机壳又与输入电源之接地端连接，若直接用探棒测量输出端，可能造成地回路电流，因而影响量测结果，因此应该避免，采用差动式示波器或示波器外加差动放大器是正确的检测接法，如图二为 INTEL建议之检测连接图，图三为 HP 建议之检测连接图，二者均采用差动式示波器作为检测设备，HP 的差动式探棒如图四所示，Tek的 差动式探棒如图五所示
图三.... HP 建议之 PARD 差动式检测连接图
图四 ....HP 的差动式探棒
（HP 1141A Differential Probe with HP 1142A Power Supply）
图五 ... Tek 的差动式探棒（P6046 Active Differential System）
待测端之傍路电容于测试规范中，应确实说明是否于待测端加入傍路电容器及其材质、容量、数量等，如图二中 INTEL 即加入 10uf 及0.1uf 电容器以便模拟主机板上的系统电容。这部份并没有通则要求，而是视需求条件而定，于测试时应说明是否有傍路电容器，如图 A 及 B 之建议检测连接图，否则测试值会有不小差异。
2.1.3. 频宽2.1.4.输入阻抗2.2.涟波与杂讯电表
由于示波器一般仅 2 个 Channel 输入对于多输出的电源供应器，观测其输出杂讯不方便，同时需用人来操作判别，又其价格不低等缺点，因此使用博计的 4030 具有多输入（达 4 个 Channel）的涟波杂讯电表，可一次测量，并做上下限判别，又价格合宜（远低于示波器）因此是另一个**的检测设备，4030之功能方块图如图六所示。其主要规格说明如下:
检测设备示波器的频宽会影响检测结果，一般规格为 20MHZ，或30MHZ（INTEL 要求规格），为数位式示波器之取样速率必须高 PARD频率 2 倍以上。
一般均为 50 Ω。较低的输入阻抗（如 50 Ω）可以较高输入阻抗（如 1MΩ）防止其他讯号之干扰。此部份并无通则要求，但于测试时应说明其输入阻抗，否则数值会有不小之差异。
