现货供应金科JK2818自动元件分析仪LCR电桥

广泛的测量对象：
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
半导体元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。
半导体材料：半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。
液晶材料：液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。

多种元件、材料特性测量能力
揭示电感器件的多种特性
JK2818高频自动元件分析仪**的性能和20Hz-1 MHz的测试频宽可以**地分析磁性材料、电感器件的性能。使用JK10301选件的100mA DC的偏置电流可以**测量高频电感器件、通讯变压器，滤波器的小电流叠加性能。使用JK1775电流叠加装置，可使偏置电流达40A以**分析高功率、大电流电感器件。

**的陶瓷电容测量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征，同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度，六位分辨率和自动电平控制（ALC）功能等，中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。

液晶单元的电容特性测量
电容－电压（C－Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法，常规仪器测量液晶单元的C－Vac特性遇到一个问题是大测试电压不够。使用JK10301选件可提供分辨率为1%及高达20Vms的可编程测试信号电平，使它能在佳条件下进行液晶材料的电容特性测量。

半导体材料和元件的测量
进行MOS型半导体制造工艺评价时，需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数，这些可从C－Vdc特性的测量结果推导出来。
20HZ－1MHz的测量频宽及高达40VDC的可编程偏置电压方可方便地完成C-VDC特性的测量。
为了测试晶圆上的半导体器件，需要延伸电缆和探头，仪器的2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至小。各种二极管、三机管、MOS管的分布电窜也是本仪器的测试内容。

适应多种领域的测试需要 提高生产效率

JK2818高频自动元件分析仪　30次/秒的测试速度可满足大多数生产场合高效测试的需要，从而提高生产厂的产能。内建比较器、电缆长度补偿、Handler接口可方便地用于自动测试系统。
 

仪器具备的20Hz-1MHz的频宽及5mVms-20ms的信号电平范围可满足绝大多数元件的检测需要。
JK10301及JK1775的配置解决了器件直流偏置测量的要求。提供径向、轴向、SMD元件的多种测试夹具配置。

用户友好的操作界面简化的前面板操作
仪器配置的320x240点阵的LCD显示器使操作者可清晰地观察测量结果，各种设定状态一目了然，交互式软键大大简化了仪器操作。
非易失性存储器以保存多种仪器设置
JK2818高频自动元件分析仪提供有内部非易失性存储器可保存20组仪器测量设置，

 

JK2818高频自动元件分析仪为多机通讯并组成自动测试系统提供了可能，同时，