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摘要:提出用椭偏仪法测试了自制液晶空间光调制器(LCSLM)的相位调制色散特性.椭偏仪法具有光路简单单,结果准确,测试自动化等优点,相比单色光源干涉仪测量方法更加简单实用.结果表明,在短波长(450 nm)处,LCSI M 的相位调制能力为1.54λ( λ=450 nm).在长波长(800 nm)处,LCSLM 的相位调制能力为0.70λ( λ=800 nm),与理论分析的色散特性基本一致.
关键词:液晶;空间光调制器;色散;椭偏仪
中图分类号:0753;TP217 文献标识码:A 文章编号:1004—4213(2007)06—1065 3
0 引言
在不同波长和电压作用下,液晶空间光调制器具有不同的相位值.这种色散特性可以应用在色散补偿,白光波前校正,光通信等许多领域,具有十分广泛的应用前景.目前,对液晶色散特性的研究主要是对液晶双折射△n和光强的研究,但没有考虑到施加电压后的相位色散特性.大多数相位都是通过干涉仪进行测量,所以相位都是在单波长下测得的.干涉测量光路复杂,测试手段麻烦,而且对于色散相位测量需要通过引入分光仪产生单色光源,再对不同波长下的单色光源分别测量.本文提出用光谱型椭偏仪测量法进行测量,该方法具有光路简单,结果准确,测试自动化等优点.利用光谱型椭偏仪实现了液晶光调制器在450 nm 到800 nm 波长范围内的相位测量.
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