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荧光光谱仪及其原理

什么是 XRF？
        典型的 X 射线荧光 (XRF) 仪器由激发源（X 射线管）和检测系统组成。 X 射线管产生入射 X 射线（初级 X 射线）以激发被测样品。样品中的每种元素都会发射二次X射线，而不同元素所发出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。检测系统测量这些发射的二次 X 射线的能量和数量。然后，仪器软件将检测系统采集到的信息转化为样品中各种元素的种类和含量。
        利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一个元素。在实际应用中，有效的元素测量范围是从元素11（Na）到元素92（U）。
         X射线荧光的物理意义：
         X射线是电磁波谱中某一波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）来描述。
         X射线荧光是由原子变化引起的现象。稳定的原子结构由原子核和核外电子组成。核外电子都以自己独特的能量运行在自己的固定轨道上。内部电子（如K层）在足够能量的X射线照射下从原子的束缚中释放出来。电子的驱逐将导致电子。相应的电子空位出现在壳层中。此时，高能电子壳层（如L层）中的电子会跃迁到低能电子壳层，填补相应的电子空位。
        由于不同电子壳层之间的能隙，这些能量差异以二次 X 射线的形式释放。不同元素释放的二次X射线具有特定的能量特性。这个过程就是我们所说的 X 射线荧光 (XRF)

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