QUC-200数显式磁性测厚仪
QUC-200 数显式磁性测厚仪 执行标准: GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74 ,本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。 主要技术参数: 1 测量范围: O-200μm 2 测量精度:±( 0.7μm+3%H )*H为标准厚度
沪公网安备 31011402002798号