粗糙度仪SJ-210

粗糙度仪
· 低测力，应用于太阳能硅片等粗糙度的测量，硅片表面线痕的测试。

· 大型 LCD 屏幕窗口,易于清晰读取。 

· 使用触控式面板（具抗污性）,操作简易。 

· 可将数据储存于记忆卡（选购品）。 

· 任意长度设定机能。 

· 仅按 PRINT 键即可藉由内藏式打印机打印出量测之结果（可选择不同之打印方式）。 

· 内藏 充电电池,本体携带方便也可收置检出器。 

· 拥有丰富的参数：自动校正机能、统计处理、合否判定机能、客户自行编辑设计

· 能判定机能

技术参数 ：

 平移范围： 17.5mm （ 5" ） 
 测量范围： 350μm （ ±150μm ） [12000μinch （ ±6000μinch ） ] 
 驱动 / 检测元件 探测仪 :178-390/178-395 
 测头 : 金刚石 
 测量力 :4mN/0.75mN 
 探测方式 : 微感应 
 评定轮廓： P , R 
 估计参数： Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,P3z,mr 
 数字过滤： 2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50% 
 截至 λC ：0.25,0.8,2.5mm 
 波长 λS： 2.5,8μm 
 取样长度（ L ）： 0.25,0.8,2.5mm 
 显示 ：彩色 LCD 
 打印机：外置 
 数据输出： 通过 RS232C 接口 /SPC 输出 
 电源通过： AC 适配器 / 电池（可充电） 
 尺寸： 62×156.5×52mm 
 重量： 0.48kg