HM2008模数组合示波器
HM2008模数组合示波器产品描述： －每通道2M存储深度，存储器放大可达100,000 ：1 －内置FFT进行频谱分析 －2个模拟通道，垂直刻度1mV～5V/格，水平时基2ns～50s/格 －4个逻辑通道(可选HO2010) －预触发/延时触发-100%至+400% －8bit低噪声高速A/D变换器 －采集模式：单次事件、取样、平均、包络、滚动、峰值检测 －U盘和USB/RS-232接口(可选IEEE-488，LAN/USB) －信号显示方式：Yt，XY和FFT －内插方式：正弦内插(SinX/X)、脉冲、线性内插 －ASA技术，元件测试功能 HM2008模数组合示波器参数： 垂直特征 通道： 模拟： 2 数字： 2+4个逻辑通道(选件HO2010) 操作模式： 模拟： CH1、CH2分别使用模式；滚动模式(CH1、CH2交替或断续)；相加模式 数字： 模拟信号通道CH1、CH2分别使用模式；滚动模式；相加模式；逻辑信号通道(LCH0-3)可切换模式 在XY模式下看X信号： CH1 反向： CH1、CH2 带宽(-3dB)： 2×0～200MHz 上升时间： <1.75ns 过冲： *大1% 带宽限制(可切换)： 约50MHz(5mV/格—5V/格) 垂直精度(CH1，CH2)： 12个**的垂直刻度 1mV—2mV/格： ±3%(0-100MHz(-3dB)) 5mV—5V/格： ±3%(1-2-5步进) 可变的(不确定)： >2.5%(1mV—5V/格连续变化) CH1，CH2输入特性： 输入阻抗： 1MΩ||15PF 耦合： DC，AC，50Ω，GND 偏置控制： 1mV，2mV/格： ±0.2V 5mV—50mV/格： ±1V 100mV—5V/格： ±20V *大输入电压： 200V(DC+AC峰值)，50Ω<5Vrms Y轴延迟线(模拟)： 70ns 测试电路： 测试类别I 模拟模式下： 辅助输入： 功能(可选)： 外触发 耦合(外触发)： All/AC,DC *大输入电压： 100V(DC+AC峰值) 数字模式下： 与选件HO2010结合下逻辑通道： 数量： 4(LCH0-3) 可选逻辑域值： TTL、CMOS、ECL 用户自定义的域值： 3 范围： 2V到8V 触发 模拟和数字模式下： 自动模式(峰值到峰值)： *小信号高度： 5mm 频率范围： 10Hz-250MHz 电平控制范围： 从负峰值到正峰值 正常模式(没有峰值)： *小信号高度： 5mm 频率范围： 0-250MHz 电平控制范围： -10格至+10格 触发方式： 边沿、视频、逻辑 边沿触发： 上升沿、下降沿、双沿 触发源： CH1、CH2、CH1/2交替、电源、外部 耦合： AC:10Hz—250MHz DC:0—250MHz 高频抑制：30KHz—250MHz 低频抑制：0—5KHz 噪声抑制，可切换 视频触发： 正向/负向、同步、脉冲 标准： 525行/60Hz系统 625行/50Hz系统 帧： 奇数帧/偶数帧/全部 行： 所有行/可选指定行数 触发源： CH1、CH2、外部 触发指示灯： LED 外触发方式： 辅助输入端(0.3Vpp，0—200MHz) *大输入电压： 100V(DC+AC峰值) 数字模式下： 预触发/延迟触发： -100%至+400%(相对于整个存储深度) 逻辑触发(选件HO2010)： 与/或，高电平/低电平 触发源： 逻辑通道0—3 状态： 任意、高、低 模拟模式下： *小信号高度： 5mm 频率范围： 0—250MHz 耦合： DC 电平控制范围： -10格至+10 格 水平特性 模拟模式下： 操作模式： A、A/B交替、B A的水平时基： 20ns/格-0.5s/格(1-2-5步进) B的水平时基： 20ns/格-20ms/格(1-2-5步进) A、B准确度： ±3% X放大×10 ： 可达2ns/格 准确度： ±5% A/B可变水平时基： 连续1：2.5 释抑时间： 可变1：10(LED显示) 模拟XY模式： X放大器带宽： 0—3MHz(-3dB) XY相位偏移： <3o (<220KHz) 数字模式下： 水平时基范围： 1-2-5步进 取样模式： 50s/格—2ns/格 峰值检测模式： 50s/格—2ns/格(*小脉冲宽度10ns) 滚动模式： 50s/格—50ms/格 水平时基准确度： 时基稳定度： 50ppm 显示精度： ±1% 存储器放大： *大100,000：1 数字XY模式 X放大器带宽： 0-200MHz(-3dB) XY相位偏移： <3o (<200MHz) 数字存储 采样率(实时采样)： 模拟通道：2×1GS/s或者2GS/s交替 逻辑通道：*大4×500MS/s 采样率(随机等效采样)： 20GS/s 带宽： 2×0-200MHz(随机) 存储深度： 2M点每通道 采集模式： 取样/平均/包括/滚动/峰值检测 分辨率(垂直)： 8bit(25点/格) Yt： 11bit(200点/格) XY： 8bit(25点/格) 内插方式： 正弦内插(sinX/X)，线性 延迟： 1M×(1/采样率) 4M×(1/采样率) 显示刷新率： *大170点/s(2M存储每通道) 显示： 点显示(只显示捕获的点)，矢量(内插方式)，*佳显示(全部存储点加权矢量显示) 参考存储器： 9×2k点(每个记录信号) 显示： 自由选择9个中的2个信号 FFT模式 显示X ： 频率范围 显示Y： 真正的频率均方根值 刻度： 线性或对数 等级显示： dBV，V 窗口： 矩形，汉宁窗、汉明窗、Blankman(布兰克曼窗口) 控制： 中心频率、跨度 标记： 频率、幅度 放大(频率轴)： ×10 操作 / 测量 / 接口 操作： 菜单(多语言)、自动设置、帮助功能(多语言) 保存/调用内部文件： 模拟： 9个仪器参数设置 数字： 9个信号波形(每个2K存储深度)包括仪器参数 信号源： CH1、CH2、LCH 0—3、Z00M、参考1—9或数**算 信号显示： *多6个信号或6个记录 USB存储器： 存储恢复外部文件： 仪器设置和波形： CH1、CH2、LCH0—3、Z00M、参考1—9或数**算 屏幕快照： 位图 信号显示数据(2K每通道)： 二进制(SCPI数据)，文本(ASCII形式)，CSV(表格形式) 频率计数器： 6个有效数字： >1MHz—250MHz 5个有效数字： 0.5Hz—1MHz 准确度： 50ppm 自动测量： 模拟模式： 频率、周期、直流电压(Vdc)、峰峰值(Vpp)、高值(Vp+ )、低值(Vp-) 数字模式中加入： 有效值(Vrms)、平均值(Vavg) 光标测量： 模拟模式： 时间差(Δt)，频率(1/Δt，f)，上升时间(tr)，电压差(ΔV)，对地电压，X比率，Y 比率 数字模式中加入： 峰峰值(Vpp)、高值(Vp+)、低值(Vp-)、有效值(Vrms)、平均值(Vavg)、脉冲个数 读出/光标分辨率： 1000/2000Pts，信号250×2000 接口(插入式)： USB/RS-232(H0720) 选件： IEEE-488,LAN/USB 数**算功能 公式编辑个数： 5组(每组5个公式) 源： CH1、CH2、Math1—Math5 目标： 5个数字存储器(Math1—5) 功能： ADD(加)，SUB(减)，1/X(倒数)，ABS(**值)，MUL(乘)，DIV(除)，平方根，POS(正数)，NEG(负数)，INV(反向) 显示： *多2个数字运算(Math1—5中) 显示 CRT ： D14-375GH 显示区域(十字线)： 8格×10格 加速电压： 约14KV 更多信息 元件测试器： 测试电压： 约7Vrms(开路)、约50Hz 测试电流： 约7mArms(短路) 参考电压 ： 地(**地) 探头校准输出： 1KHz/1MHz方波信号0.2Vpp(上升时间<4ns) 轨迹旋转： 电子的 输入电压： 105-253V，50/60Hz±10%，CATⅡ 功耗： 48W (230V，50Hz时) 保护系统： **等级I (EN61010-1) 重量： 5.6Kg 体积(宽×高×厚)： 285×125×380mm 环境温度： 0℃至+40℃ TCEW-2000交直流磁粉探伤机 TCEW2000 TCEW-4000A 交直流两用磁粉探伤机 TCEW-4000A交直流两用磁粉探伤机 TCEW4000A TCEW-1000 交直流磁粉探伤机 TCEW-1000交直流磁粉探伤机 TCEW1000 DA500 磁粉探伤仪 DA500磁粉探伤仪 DA-500 超声波探伤仪 USN60 超声波探伤仪USN60 USN-60 USD10NF 高衰减材料探伤仪 USD10NF高衰减材料探伤仪 USD-10NF USN58L/R 超声波探伤仪 USN58L/R超声波探伤仪 USN-58L/R 超声波探伤仪 USM33 超声波探伤仪USM33 USM-33 PXUT-F1 超声波探伤仪 PXUT-F1超声波探伤仪 PXUTF1 TVD300 超声波探伤仪 TVD300超声波探伤仪 TVD-300 TVD350
TCEW-2000交直流磁粉探伤机 TCEW2000 TCEW-4000A 交直流两用磁粉探伤机 TCEW-4000A交直流两用磁粉探伤机 TCEW4000A TCEW-1000 交直流磁粉探伤机 TCEW-1000交直流磁粉探伤机 TCEW1000 DA500 磁粉探伤仪 DA500磁粉探伤仪 DA-500 超声波探伤仪 USN60 超声波探伤仪USN60 USN-60 USD10NF 高衰减材料探伤仪 USD10NF高衰减材料探伤仪 USD-10NF USN58L/R 超声波探伤仪 USN58L/R超声波探伤仪 USN-58L/R 超声波探伤仪 USM33 超声波探伤仪USM33 USM-33 PXUT-F1 超声波探伤仪 PXUT-F1超声波探伤仪 PXUTF1 TVD300 超声波探伤仪 TVD300超声波探伤仪 TVD-300 TVD350
沪公网安备 31011402002798号
