222
涂层测厚仪222
涂层测厚仪leeb222
【技术参数】
项目名称
Leeb222
测头类型
F1和N1
测量原理
磁感应和电涡流
测量范围
0 ~ 1250um
分辨率
0.1um
示值误差
一点校准
±(3%H+1)um
二点校准
±[(1~3)%H+1]um
测试条件
*小曲率半径
凸1.5mm 凹9mm
*小面积直径
φ7mm
基本临界厚度
0.5mm
工作环境
温度
0 ~ 40℃
湿度
20% ~ 90%
电源
AAA碱性电池2节
电压
3V
工作时间
100小时
外形尺寸
115*68*25 mm
重量
200g
外壳材质
塑料外壳
标准配置
主机、标准试片、基体、F1和N1探头、碱性电池
可选配件
标准试片、探头
PC通讯
有
沪公网安备 31011402002798号