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产品资料

TT230 涂层测厚仪

TT230 涂层测厚仪
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简单介绍
TT230 涂层测厚仪产品介绍   TT230本仪器是一种超小型的测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。 主要功能   可进行零点校准及二点校准。   可对测头进行基本校准。   设有五个统计量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。   具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。   自动关机功能。   删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。   操作过程有蜂鸣声提示。   有欠压指示功能。   有错误提示功能。
产品描述
TT230 涂层测厚仪产品介绍  
   TT230本仪器是一种超小型的测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。 
主要功能 
可进行零点校准及二点校准。 
可对测头进行基本校准。 
设有五个统计量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。 
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。 
自动关机功能。 
删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。 
操作过程有蜂鸣声提示。 
有欠压指示功能。 
有错误提示功能。
同系列产品
  TT240 TT260 TT220 TT230
测量原理 涡流测厚法 磁性和涡流两种测厚方法 磁性法 涡流法
测量范围 0~1250um 0—1250μm 1~1250μm 1~1250μm
测量精度 0.1μm(测量范围小于100μm)1μm (测量范围大于100μm) ±(3%H+1)μm(零点校准) :±(3%H+1.5)μm(零点校准)
待测基体*小曲率半径(mm) 凸3
基体*小面积的直径(mm) Φ5
低限分辨力(μm) 0.1
示值误差(μm) 零点校准±(3%H+1.5) 二点±[(1%~3%)H+1.5]校准

TT230 

TT230 测厚仪

TT230 涂层测厚仪

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