CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪
本测厚仪是用机械量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器,但不适用于压花得薄膜和簿片。它参照执行国家标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》,该国家标准修改采用国际标准ISO4593-1993《塑料—簿膜和簿片—用机械扫描法测定厚度》。 技术参数 测量范围:0~12.7mm 分度值:0.001mm 测头端部的力:上测量面为SR15mm~SR50mm曲率半径,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.1~0.5N;相当于10.2gf~51gf CH-12.7-STSX 测量范围 分度值 压力 上测头的直径
本测厚仪是用机械量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器,但不适用于压花得薄膜和簿片。它参照执行国家标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》,该国家标准修改采用国际标准ISO4593-1993《塑料—簿膜和簿片—用机械扫描法测定厚度》。
技术参数
测量范围:0~12.7mm
分度值:0.001mm
测头端部的力:上测量面为SR15mm~SR50mm曲率半径,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.1~0.5N;相当于10.2gf~51gf
CH-12.7-STSX
CH12.7STSX
沪公网安备 31011402002798号